超声波扫描显微镜和X光机区别:SAT检测为划分层次扫描机. X光为透射扫描机.

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超声波扫描显微镜，或超声波显微镜，半导体业界通常都直接简称为c-sam，或sat，主要应用到半导体器件的后封装检测当中。

超声波扫描显微镜简介

超声波显微镜，其实它与显微镜几乎不沾边，只是这玩意起先产生的国外，英文是：scanningacoustic microscope，简称sam。后来进入国内，大家也就直接翻译成超声波显微镜了，或者叫声扫显微镜了。因此在很多半导体器件封装厂，大家也就直接用泊业名：c-sam。其主要是针对集成电路（芯片）、大功率器件，如igbt、材料内部的失效分析。

 德国KSi的SAT检测优势

1、操作系统中文，上手快

2、有防气泡探头，扫描速度最快2米/每秒，体验好，产能高 。

3、可以追溯的原文件格式，图像和波形可以同时存储为机器文件，方便分析溯源。 

4、超声CT功能模块，体验提升。

5、各种扫描模式方便分析升级。

6、扩展性强，未来可以升级到双探头，xy轴磁悬浮扫描机构20年免维护.

代表客户 景旺，芯爱，礼鼎，深圳盛元半导体， 合科泰，东翔 ，长电，芯健，万年芯，江西天漪，重庆市嘉凌新，华润微电子（重庆），贵州中芯微，byd，京瀚禹，三代半，13所，214所，绵阳9院，臻驱，思睿辰等

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